Análisis de ciclo de vida comparativo del uso de tecnologías de películas delgada de óxidos semiconductores para su aplicación en ventanas inteligentes en rascacielos: depósito, caracterización y evaluación del impacto ambiental

Caballero Güereca, Carlos Enrique (2023) Análisis de ciclo de vida comparativo del uso de tecnologías de películas delgada de óxidos semiconductores para su aplicación en ventanas inteligentes en rascacielos: depósito, caracterización y evaluación del impacto ambiental. Maestría thesis, Universidad Autónoma de Nuevo León.

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Tipo de elemento: Tesis (Maestría)
Información adicional: Maestría en ciencias con orientación en ingeniería ambiental
Materias: T Tecnología > TD Tecnología Ambiental, Ingeniería Sanitaria
Divisiones: Ingeniería Civil > Maestría en Ciencias con orientación en Ingeniería Ambiental
Usuario depositante: Editor Repositorio
Creadores:
CreadorEmailORCID
Caballero Güereca, Carlos EnriqueNO ESPECIFICADONO ESPECIFICADO
Fecha del depósito: 16 Ago 2023 21:30
Última modificación: 16 Ago 2023 21:30
URI: http://eprints.uanl.mx/id/eprint/25935

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