Localización de fallas en sistemas muestreados

Tovar Luna, Alma Cristina (2011) Localización de fallas en sistemas muestreados. Maestría thesis, Universidad Autónoma de Nuevo León.

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Tipo de elemento: Tesis (Maestría)
Información adicional: Maestro en Ciencias de la Ingeniería Eléctrica con Orientación en Control Automático
Divisiones: Ingeniería Mecánica y Eléctrica
Usuario depositante: Admin Eprints
Creadores:
CreadorEmailORCID
Tovar Luna, Alma CristinaNO ESPECIFICADONO ESPECIFICADO
Fecha del depósito: 26 Ago 2014 17:52
Última modificación: 08 Feb 2017 14:31
URI: http://eprints.uanl.mx/id/eprint/2882

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