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Caracterización de películas delgadas de nitruro de aluminio (AlN) y nitruro de aluminio oxidado (AlNO) depositadas por la técnica de erosión iónica
Morales Rodríguez, Santos (2008) Caracterización de películas delgadas de nitruro de aluminio (AlN) y nitruro de aluminio oxidado (AlNO) depositadas por la técnica de erosión iónica. Doctorado thesis, Universidad Autónoma de Nuevo León.
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Texto
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| Tipo de elemento: | Tesis (Doctorado) | ||||||
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| Información adicional: | Doctorado en Ingeniería Física Industrial | ||||||
| Materias: | Q Ciencia > QD Química T Tecnología > TP Tecnología Química |
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| Divisiones: | Ciencias Físico Matemáticas | ||||||
| Usuario depositante: | Editor Repositorio | ||||||
| Creadores: |
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| Fecha del depósito: | 03 Mayo 2021 14:47 | ||||||
| Última modificación: | 03 Mayo 2021 14:47 | ||||||
| URI: | http://eprints.uanl.mx/id/eprint/21212 |
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